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近紅外光譜分析儀測定過程中幾個操作要點

更新時間:2020-10-14 點擊次數:1597
   近紅外光譜分析儀可直接對樣品進行無損檢測,幾秒鐘即可得出結果,一臺設備即可滿足日常檢測需求,適用范圍廣泛,包括壓片玉米、玉米粉、DDGS、全棉籽、青貯玉米、苜蓿、棉粕、豆粕等TMR原料。用戶可根據每一批次原料的檢測結果對TMR配方進行優(yōu)化,真正實現精細管理。該方案相較于傳統(tǒng)實驗室儀器投入更低,幫助客戶提高經濟效益并降低成本。

近紅外光譜分析儀

  與常用的化學分析方法不同,近紅外光譜分析法是一種間接分析技術,是用統(tǒng)計的方法在樣品待測屬性值與近紅外光譜數據之間建立一個關聯模型(或稱校正模型,Calibration Model)。PSS近紅外光譜儀的核心部件是多色儀,融合了二極管陣列技術和3D透射光柵技術,保證了光譜儀在數據采集方面的快速和可靠性。
  近紅外光譜分析儀測定過程中幾個操作要點
  1、測定時實驗室的溫度應在15~30℃,所用的電源應配備有穩(wěn)壓裝置。
  2、為防止儀器受潮而影響使用壽命,紅外實驗室應保持干燥(相對濕度應在65%以下)。
  3、樣品的研磨要在紅外燈下進行,防止樣品吸水。
  4、壓片用的模具用后應立即把各部分擦干凈,必要時用水清洗干凈并擦干,置干燥器中保存,以免銹蝕。
  5、OMNI采樣器使用過程中必須注意以下幾點:
 ?。?)樣品與Ge晶體間必須緊密接觸,不留縫隙。否則紅外光射到空氣層就發(fā)生衰減全反射,不進入樣品層。
 ?。?)對于熱、燙、冰冷、強腐蝕性的樣品不能直接置于晶體上進行測定,以免Ge晶體裂痕和腐蝕。
 ?。?)尖、硬且表面粗糙的樣品不適合用OMNI采樣器采樣,因為這些樣品極易刮傷晶片,甚至使其碎裂。

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